可靠性技術 探索環(huán)測行業(yè)科技之路

可靠性技術 探索環(huán)測行業(yè)科技之路
——首屆華南（東莞）環(huán)境與可靠性試驗技術論壇取得圓滿成功
　　5月15日，為了解和探討國內針對環(huán)境與可靠性技術研究和應用的進展、促進行業(yè)技術的交流，由中國儀器儀表學會泛珠三角區(qū)域分會聯(lián)盟、廣東省儀器儀表學會、華南計量測試中心、廣東省計量科學研究院、星球資訊（香港）有限公司、《環(huán)境技術》雜志社等聯(lián)合主辦的2009年華南（東莞）環(huán)境與可靠性試驗技術論壇在東莞厚待·廣東現(xiàn)代展覽中心隆重舉辦。
論壇現(xiàn)場 業(yè)內精英齊聚一堂
　　中國計量科學研究院、*張鐘華院士、*劉人懷院士、中國儀器儀表學會副理事長兼秘書長吳幼華、華南計量測試中心、廣東省計量科學研究院副院長潘嘉生、中興通迅股份有限公司可靠性測試中心彭軼總監(jiān)、廣東省計量科學研究院總工程師陳明華、中國電器科學研究院工程師張志勇和中國賽寶實驗室可靠性與環(huán)境工程中心主任紀春陽等國內科研院所、企業(yè)的專家以及眾多業(yè)內精英齊聚一堂。
*嘉賓合影
　　論壇由廣東省儀器儀表學會袁鴻秘書長主持。中國計量科學研究院、*張鐘華院士、中國儀器儀表學會秘書長兼副理事長吳幼華、華南計量測試中心、廣東省計量科學研究院副院長潘嘉生以及深圳市*孫楠處長致辭。
張鐘華院士（左圖） 、吳幼華秘書長（右圖） 致辭
在會上，中國儀器儀表學會副理事長兼秘書長吳幼華指出，環(huán)境與可靠性試驗技術是當今現(xiàn)代科技重要的技術熱點話題，也是我國科學發(fā)展中的瓶頸和軟肋，*的儀器儀表與測量控制技術是打開這一關鍵之門的鑰匙。的儀器儀表打造需要仰賴業(yè)界科技精英奮力拼搏、歉收并蓄、博采眾長、尋求突破，而高水平的技術交流正是這突破的基礎鋪墊和有效手段。   
　　論壇上，張鐘華院士作了以“21世紀計量及可靠性試驗技術發(fā)展趨勢”為主題的演講，他總結到，21世紀中，與飛速發(fā)展的工農業(yè)、科學技術相適應，計量及檢測技術發(fā)展迅速。以量子物理為基礎的新型計量標準將全面代替?zhèn)鹘y(tǒng)的實物基標準。國家及社會對計量、檢測技術高度重視，可以預見我國在這方面必將有令人矚目的新發(fā)展。
與會專家學者作主題報告
　　隨后，華南國家計量測試中心/廣東省計量科學研究院能源計量部羅旭東部長、中國電工電子產品機械試驗標委會秘書長賽寶實驗可靠性工程研究中心紀春陽主任、廣州威凱檢測技術研究院、環(huán)境技術檢測所材料檢測站張志勇副站長、中興通訊股份有限公司質量部可靠性測試中心彭軼 總監(jiān)等與會專家對環(huán)境與可靠性技術作了主題報告。　
現(xiàn)場互動答疑
　　本次技術論壇以“產品的環(huán)境與可靠性試驗技術”為主題，就計量及可靠性試驗技術發(fā)展趨勢、電子產品的可靠性測試、氣候老化試驗方法及性能評價、氣候試驗設備、老化篩選方法等熱點議題進行探討與交流。
此次論壇旨在搭建一個國內環(huán)境與可靠性試驗技術方面的專家和企業(yè)之間的溝通平臺，增進國內在產品環(huán)境適應性和可靠性試驗技術的交流。其成功舉辦將對進一步提高國內工業(yè)產品環(huán)境適應性與可靠性方面的試驗、評價和技術水平、改進產品的性能、提高產品的質量、增強產品市場競爭力起到積極的意義。